金属硅检测单位哪里有？中析研究所实验室提供金属硅检测服务，出具的检测报告支持扫码查询真伪。检测范围：工业硅、太阳能级硅、电子级硅、多晶硅、单晶硅，检测项目：纯度、粒度、比表面积、堆积密度、真密度、水分、挥发分、金属杂质、气体杂质。

检测周期：7-15个工作日

金属硅检测范围

工业硅、太阳能级硅、电子级硅、多晶硅、单晶硅

金属硅检测项目

纯度、粒度、比表面积、堆积密度、真密度、水分、挥发分、金属杂质、气体杂质

金属硅检测方法

1. 光谱分析：使用光谱仪测量金属硅中杂质元素的含量。

2. 粒度分析：使用粒度分析仪测量金属硅颗粒的大小分布。

3. 比表面积分析：使用比表面积分析仪测量金属硅单位质量的表面积。

4. 堆积密度测试：使用堆积密度测试仪测量金属硅在松散堆积状态下的密度。

5. 真密度测试：使用真密度测试仪测量金属硅在无孔隙状态下的密度。

6. 水分测定：使用水分测定仪测量金属硅中水分的含量。

7. 挥发分测定：使用挥发分测定仪测量金属硅在高温下挥发的物质的含量。

8. 原子吸收光谱法：使用原子吸收光谱仪测量金属硅中金属杂质的含量。

9. 气相色谱法：使用气相色谱仪测量金属硅中气体杂质的含量。

金属硅检测仪器

光谱仪、粒度分析仪、比表面积分析仪、堆积密度测试仪、真密度测试仪、水分测定仪、挥发分测定仪、原子吸收光谱仪、气相色谱仪

金属硅检测标准

GB/T 18866-2017橡胶 酸消化溶解法

HG/T 4513-2013工业硅酸镁

JC/T 1018-2020水性渗透型无机防水剂

JIS G1322-1-2010金属硅的化学分析方法 第1部分:硅含量的测定方法

JIS G1322-2-2010金属硅的化学分析方法 第2部分:碳含量的测定方法

JIS G1322-3-2010金属硅的化学分析方法 第3部分:磷含量的测定方法

JIS G1322-4-2010金属硅的化学分析方法 第4部分:硫含量的测定方法

JIS G1322-5-2010金属硅的化学分析方法 第5部分:铁含量的测定方法

JIS G1322-6-2010金属硅的化学分析方法 第6部分:铝含量的测定方法

JIS G1322-7-2010金属硅的化学分析方法 第7部分:钙含量的测定方法

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